安捷伦Cary 7000 全能型分光光度计 (UMS)
Agilent Cary 7000 全能型分光光度计 (UMS) 能够轻松应对您所有的固体采样需求。借助该仪器，可以通宵自动采集上百张 UV-Vis-NIR 光谱图，还能在短短几分钟到几小时内完成光学组件和薄膜的表征，而使用常规仪器则需要花费数小时乃至数天时间。Cary 7000 UMS 为光学元件、薄膜/镀膜、太阳能和玻璃的研究、开发和 QA/QC 提供了一站式解决方案。
Cary 7000 仪器的多角度镜面反射和透射功能使您能够实施以前从未进行过的实验设计，扩展您的研究范围，而自动化反射和透射能够为您节省时间和成本。客户对 Agilent Cary 7000 UMS 的评价：
“我向所有需要高精度且一致的多角度分光光度数据的研究人员和实验人员推荐这款产品。”
特点
实现全面的样品表征。
无需移动或调整样品角度，即可在同一个采样序列中完成不同角度以及 s 或 p 不同偏振下的绝对反射率和透射率测量。
在独立控制检测器和样品位置的前提下，测量一定角度下的漫透射率和漫反射率。
大样品室适用于从小到大的所有样品类型，样品台还能灵活地旋转 360 度。
全面控制光束准直和光斑大小，以匹配样品最终的实际使用条件。
降低每次分析的成本，使用自动化和机械臂系统节省时间和费用。
可在数分钟内完成其他系统需要数小时乃至数天才能完成的测量，还可实现无人值守的自动化操作。
只需设置好方法、针对所有角度采集一条基线、插入一个或多个样品，然后就可以放心离开了。
吸光度范围达到超高的 10 Abs，高级材料分析不再是难题。
Cary 7000 分光光度计的测量范围达到 10 Abs，Cary 7000 UMS 使得您在面对具有挑战的样品（例如高光密度 (OD)）或在困难的测量条件下，仍可以得到高质量的结果。
借助新一代 Cary WinUV 软件获得超高质量的分析结果。
Cary WinUV 软件采用全新的方法编辑器，可简化方法设置，实现高级数据处理功能，还能生成三维图形，确保快速而准确地进行数据分析。
性能指标
| Z 轴高度 | 20 mm |
| 光度系统 | 双光束 |
| 光度范围 (Abs) | 10 Abs |
| 光源 | 卤钨灯可见光和氘弧紫外光 |
| 光谱带宽 | UV-Vis 0.01 - 5.00 nm NIR 0.04 - 20 nm |
| 宽度 | 1020 mm |
| 控制软件 | Cary WinUV for UV-Vis-NIR Applications |
| 最大扫描速度 | UV-Vis 2000 nm/min NIR 8000 nm/min |
| 波长 | 175 - 3300 nm |
| 深度 | 710 mm |
| 电源要求 | 100-240 VAC，50/60 Hz |
| 重量 | 91 kg |
| 高度 | 380 mm |
工作原理
多角度 UV-Vis-NIR 光谱
无需移动或调整样品角度，即可在同一个采样序列中实现全面的样品表征，包括以不同角度和偏振测量绝对反射率和透射率。Cary 7000 UMS 是安捷伦第一款真正的全能型测量仪器，无需使用多种附件，从而缩短了附件更换或系统重新配置的时间。它的设计可确保数据质量，避免产生样品不均匀效应，还可避免一次测量中采用多种分析技术时所得谱图不一致的情况。
10 Abs 吸光度范围
Cary 7000 UMS 采用的 Cary 7000 分光光度计，其质量和性能远高于市场上任何一款 UV-Vis-NIR 分光光度计。得益于超低噪音和高达 10 Abs 的吸光度范围，Cary 7000 UMS 可让您即使在处理挑战性的样品测量（例如高光密度滤光片）时，都能获得高质量的结果。
用于固体样品的自动进样器
借助适用于 Cary 7000 UMS 和通用型测量附件 (UMA) 的安捷伦固体自动进样器彻底变革您的材料分析。
这款固体自动进样器可提高 UMS 和 UMA 的工作效率和分析能力。在一次运行中可测量最多 32 个 1 英寸样品或者分析大样品（最大 8 英寸）的镀膜均匀性，空间分辨率可达 2 mm × 2 mm。固体自动进样器是对薄膜、镀膜、光学元件、玻璃和太阳能等高级材料进行研究和 QA/QC 分析的理想附件。
应用
Cary UV-Vis-NIR 在薄膜、光学元件和玻璃领域的应用
对光的检测和控制在光子和光电设备的发展中发挥着至关重要的作用，其中准确度和测量灵活性十分关键。Cary UV-Vis-NIR 分光光度计为各种尺寸和形状的光子器件和元件提供特定的光子检测和测量解决方案。可以在宽动态范围以及光密度和光谱分辨率条件下检测光的反射率和透射率。
Cary UV-Vis-NIR 在半导体 — 光子和光电设备中的应用
对光的检测和控制在光子和光电设备的发展中发挥着至关重要的作用，其中准确度和测量灵活性十分关键。Cary UV-Vis-NIR 分光光度计为各种尺寸和形状的光子器件和元件提供特定的光子检测和测量解决方案。可以在宽动态范围以及光密度和光谱分辨率条件下检测光的反射率和透射率。
适用于高级材料和纳米材料的 Cary UV-Vis-NIR
通过 Wiley 电子书《使用 UV-Vis-NIR 光谱技术进行纳米材料研究》拓展您的纳米材料分析技术和 UV-Vis-NIR 光谱技术知识储备。
通过来自中国、美国和澳大利亚研究人员的三个案例研究，了解利用 UV-Vis-NIR 光谱技术分析纳米材料的最新实践示例。
同行评审 Cary 7000 出版物
Cary 系列 UV-Vis-NIR 分光光度计是前沿学术界和政府机构的常用选择。在科学文献和可公开访问的数据库（包括谷歌学术）中，可以找到种类繁多的 Cary 7000 出版物。
