安捷伦 ICP-MS 高基质进样系统 (HMI) 附件HMI
安捷伦高基质进样 (HMI) 技术作为 7800 ICP-MS 的标配提供，其采用创新的、由计算机控制且可重现的气溶胶稀释方法，可减少等离子体中气溶胶的载入量。因此，等离子体耐受的总溶解态固体 (TDS) 含量远高于 ICP-MS 可耐受的典型 TDS 含量范围 (0.1%-0.2%)。
HMI 使用洁净、干燥的氩气稀释样品气溶胶，完全避免了液体稀释的种种缺陷（时间成本、试剂成本、污染风险和稀释误差）。
HMI 使用洁净、干燥的氩气稀释样品气溶胶，完全避免了液体稀释的种种缺陷（时间成本、试剂成本、污染风险和稀释误差）。
- 可直接分析含有低百分水平 TDS（最高 3%，取决于基质情况）的样品
- 与传统 ICP-MS 方法相比，显著提高了等离子体的稳定性
- 将氧化物干扰降至极低水平 (0.2% CeO/Ce)，提供更准确的结果和更稳定的取样条件
- 分析前无需对高基质样品进行液体稀释（常规的液体稀释存在一些缺点，包括增加了样品污染的风险、增大了稀释误差和延长了样品前处理时间）
- 作为 7800 ICP-MS 的标配提供
