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安东帕MHT³微米压痕仪

主要特点

仪器化压入测试 (IIT) 用于测量硬度和弹性模量

  • 位移-仪器化压痕:持续测量与施加的载荷和相关的位移,获得材料硬度和弹性模量

一台仪器即可进行从纳米到宏观尺度的压痕

  • 从小位移(几纳米)到大位移(zei大 1 mm)的压痕

  • 大载荷范围(从10 mN 到 30 N)以满足样品特性的要求

  • 大载荷范围 对测量粗糙表面尤为有用

高精度的位移和载荷可进行精确的微米压痕测量

  • 两个独立的传感器:一个用于载荷,一个用于位移,来进行准确的计量测量

  • 高框架刚度:2 x 108 N/m,更高的位移准确度

材料性能的位移曲线

  • 连续多周期 (CMC) 的位移曲线:硬度和弹性模量与压入位移的关系

  • 压入载荷和位移控制模式

  • 可视点阵模式通过显微镜观察对样品进行多点定位测试通过

  • 多个测试模式:可使用用户自定义程序根据需要设置测试参数

技术指标

载荷
zei大载荷30 N
分辨率6 μN
本底噪音<100 [rms] [μN]*
位移
zei大位移1000 μm
分辨率0.03 nm
本底噪音<1.5 [rms] [nm]*
 
载荷框架刚度> 107 N/m
国际标准ISO 14577, ASTM E2546, ISO 6507,
ASTM E384

*理想实验室条件下规定的本底噪音值,并使用减震桌。